загрузка...
загрузка...
На головну

Кристалографічні напрямки і площини

  1. Amp; 10. Основні напрямки сучасної філософія історії
  2. IV. Основні напрямки реалізації Національної стратегії протидії корупції
  3. Prepositions of Direction. Причини того напрямку
  4. Американський структуралізм і його напрямки
  5. Аналітичні можливості, завдання та основні напрями аналізу СНР
  6. Аналітичне визначення значення і напрямки рівнодіюча плоскої системи збіжних сил (метод проекцій)
  7. Аномалії зубних рядів в трансверзальной площині.

Впорядкованість розташування атомів в кристалічній решітці дозволяє чітко виділити окремі кристалографічні напрямки і площини.

Кристалографічними напрямками є прямі або промені, що виходять з якоїсь точки відліку, уздовж яких на певній відстані один від одного розташовуються атоми. Точками відліку можуть служити вершини куба, при цьому кристалографічними напрямками, наприклад, є його ребра і діагоналі граней (рис. 1.2, а). Можуть бути й інші питання, що цікавлять дослідників напрямки.

Кристалографічними площинами є площини, на яких лежать атоми, наприклад грані куба або його діагональні площині (рис. 1.2, б, в, г).


 [101]
 . (010)

 Кристалографічні напрямки і площини прийнято позначати індексами Міллера. Для визначення індексу будь-якого напрямку слід знайти координати найближчого до точки відліку атома, лежачого на цьому напрямку, виражені через параметр решітки.

 Мал. 1.2. Основні кристалографічні напрямки (а) і площині (б, в, г)

Наприклад, координати найближчого атома уздовж осі ох виразяться через 100. Цими цифрами прийнято позначати індекс напрямків вздовж осі ох і паралельних йому напрямків: [100].

Індекси напрямків уздовж осей оу и oz і паралельних їм напрямків виразяться відповідно через [010] і [001], а напряму уздовж діагоналей граней xoz, хоу, yoz і діагоналі куба отримають індекси відповідно [101], [ПО], [011] і [111] (див. рис. 1.2, а).

Для визначення індексу кристаллографической площині слід спочатку знайти координати найближчих точок її перетину з осями координат, проведеними з точки відліку о. Потім зворотні величини знайдених координат слід записати в звичайній послідовності в круглих дужках. Наприклад, координати точок перетину з осями координат, що цікавить нас найближчій площині, паралельній площині хоу (Т. Е. Площині верхньої межі куба, рис. 1.2, б), є числа з, зі, 1. Тому індекс цій площині можна записати так: (001).

Індекси площин, паралельних площинах xoz и yoz, запишуться у вигляді (010) і (100) (рис. 1.2, б). Індекс вертикальної діагональної площині куба виразиться через (ПО), а індекс похилій площині, що перетинає з усіма трьома осями координат на видаленні одного параметра, набуде вигляду (111) (рис. 1.2, в, г).

Використання понять про кристалографічних напрямках і площинах і їх індексів дозволяє описувати різні явища, що відбуваються в кристалічних тілах, а також особливості властивостей кристалічних тіл уздовж різних напрямків і площин.





Попередня   1   2   3   4   5   6   7   8   9   10   11   12   13   14   15   16   Наступна

ВИЩА ШКОЛА | МАТЕРІАЛОЗНАВСТВО | Розділ 1. Основи будови і властивостей матеріалів | аллотропия металів | Дислокаційна структура і міцність металів | Поняття про дислокації і інших дефектах кристалічної решітки | Дислокаційний механізм упругопластической деформації | Основні елементи дислокаційної структури | Загальні поняття про навантаження, напружених, деформаціях і руйнуванні матеріалів | Випробування на розтяг |

загрузка...
© um.co.ua - учбові матеріали та реферати